刊 名:
电子元件与材料
ELECTRONIC COMPONENTS AND MATERIALS
主 办
国营第715厂
中国电子学会
中国电子元件行业协会
刊 期:月刊
出版地:成都市
语 种:中文
开 本:大16开
刊 号:

ISSN 1001-2028
CN 51-1241/TN
邮发代号:62—36
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专家论坛

  • 半导体技术对无源电子元件发展的影响

    张药西;

    经过半个世纪的发展,半导体技术不仅在制造功能强大的IC及各式各样的半导体分立器件方面,对社会发展起到不可估量的推动作用,而且对其他技术领域也产生了深刻的影响。在当前世界经济衰退浪潮的冲击下,无源电子元件领域借鉴、融合半导体技术以提高自身创新能力,加快产品升级是抵御冲击的值得关注的措施之一。

    2009年05期 v.28;No.207 1-4页 [查看摘要][在线阅读][下载 679K]
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研究与试制

  • BaSnO_3/BaBiO_3复相陶瓷的显微结构及电性能

    黄晋;刘心宇;李川;王洋;

    以BaCO3、SnO2和Bi2O3为原料,采用传统固相反应法制备了具有NTC特性的BaSnO3/BaBiO3复相陶瓷。借助XRD、SEM和R-t特性测试仪,研究了该陶瓷的相结构、断面形貌及n(BaBiO3)对其电性能的影响。结果表明:随着r(BaBiO3∶BaSnO3)从0.1∶1.0增大到0.9∶1.0,样品的B25/85值从4400K降低到3000K,同时室温电阻率ρ25从106Ω·cm降低到103Ω·cm。

    2009年05期 v.28;No.207 5-7页 [查看摘要][在线阅读][下载 989K]
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  • Na~+掺杂量对BaBiO_3基陶瓷NTC特性的影响

    李川;刘心宇;石雨;王小军;

    以BaCO3、Bi2O3为原料,Na2C2O4为掺杂剂,用传统固相法制备了具有NTC特性的BaBi1–xNaxO3陶瓷。用XRD,SEM和ρ-t特性测量仪,研究了Na+掺杂量对该陶瓷的物相、显微结构及电性能的影响。结果表明:BaBi1–xNaxO3陶瓷的B25/85值和室温电阻率ρ25均随着x(Na2C2O4)的增加呈现先减小后变大的趋势;当x(Na2C2O4)为0.050时,获得了具有较好NTC特性的试样,其ρ25为2200?·cm,B25/85值为3365K。

    2009年05期 v.28;No.207 8-10页 [查看摘要][在线阅读][下载 3044K]
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  • 退火温度对FeSiAl合金微结构及电磁特性的影响

    高峰;李鹏飞;王群;

    对球磨后的FeSiAl合金粉末进行不同温度真空退火,并制备成软磁合金复合材料(SCM)。采用SEM、XRD和网络分析仪等分析手段,研究了退火后合金的相组成、超点阵结构有序度、平均晶粒尺寸和1MHz~1.5GHz的SCM的复磁导率,随退火温度变化的规律。结果表明:随着退火温度逐渐提高,DO3超点阵结构有序度由0.38增大到0.66、平均晶粒尺寸由36.93nm增大到71.41nm、SCM在同频率下的μ′和μ″均逐渐减小。

    2009年05期 v.28;No.207 11-13页 [查看摘要][在线阅读][下载 1238K]
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  • (Na_(0.5)K_(0.5-x)Li_x)NbO_3高温无铅压电陶瓷性能研究

    王矜奉;亓鹏;王春明;郑立梅;盖志刚;

    为降低成本,采用传统电子陶瓷工艺制备了(Na0.5K0.5–xLix)NbO3(x=0.057~0.066)无铅压电陶瓷。Li取代K可以明显提高样品的居里温度(tC),x=0.066时样品的tC高达510℃,比纯(Na0.5K0.5)NbO3陶瓷高70℃左右。x=0.064时样品的d33高达212pC/N,kp为45.7%。x=0.063~0.066时样品的tanδ均低于0.020。特别是,x=0.066的样品经450℃退火24h,d33仍高达125pC/N。实验表明,(Na0.500K0.434Li0.066)NbO3是高性能的高温无铅压电陶瓷。

    2009年05期 v.28;No.207 14-16页 [查看摘要][在线阅读][下载 2074K]
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  • SiO_2对纳米CoFe_2O_4结构和磁性能的影响

    陈敬艳;刘梅;华杰;尹基哲;李海波;

    采用sol-gel法及经空气中热处理制备了CoFe2O4和CoFe2O4/SiO2纳米材料。利用XRD、SEM和振动样品磁强计(VSM)对样品的结构、晶粒尺寸及磁性能进行了研究。结果表明:SiO2的加入有助于降低CoFe2O4的形成温度,有效抑制CoFe2O4晶粒的长大,并使CoFe2O4的Hc提高。经900℃热处理的CoFe2O4/SiO2样品中已不存在杂相Fe2O3;CoFe2O4的晶粒尺寸从无SiO2时的78nm减小到15nm;样品的Hc由41.1kA·m–1提高到73.1kA·m–1。

    2009年05期 v.28;No.207 17-19页 [查看摘要][在线阅读][下载 1305K]
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  • 锐钛矿TiO_2的水热法制备以及紫外光降解甲醛

    张一兵;汪建;江雷;

    用硫酸钛水热法制备了纳米TiO2光催化剂,研究了纳米TiO2的形态结构特征及其光催化性能,并探讨了甲醛溶液的初始pH值和初始浓度、TiO2用量、降解温度和时间对光催化降解反应的影响。结果表明,制备的锐钛矿TiO2产物平整而密实,它由八面体结构的TiO2纳米晶大面积自组装而成。在35℃降解温度下采用254nm紫外光源照射1h后,锐钛矿TiO2对甲醛的降解率达到51.10%,2h后达68.42%。

    2009年05期 v.28;No.207 20-23页 [查看摘要][在线阅读][下载 1145K]
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  • CaCu_3Ti_4O_(12)-ZnNb_2O_6复合材料的介电逾渗及固相反应

    梁晓军;巩会玲;李旺;黄伟军;刘宇;

    以低εr的ZnNb2O6为基体,以高εr的CaCu3Ti4O12(CCTO)为增强体,研究了CCTO-ZnNb2O6复合材料体系的介电逾渗行为以及高温下的固相反应。结果表明:当CCTO体积分数超过51.0%时,εr突然跃迁,达到5600,表现为介电逾渗。CCTO与ZnNb2O6在900℃以上会发生固相反应,生成Cu0.5Ti0.5NbO4、CaNb2O6、Zn2TiO4及一种与CCTO衍射峰相似、晶格常数比CCTO略大的未知物质,分析认为该未知物质是Nb5+取代CCTO中部分Ti4+而形成的固溶体。

    2009年05期 v.28;No.207 24-26+29页 [查看摘要][在线阅读][下载 1172K]
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  • 氧化铜纳米棒的水热合成及其气敏性能研究

    张娟;袁昊;向群;徐甲强;

    以Cu(NO3)2·3H2O为铜源,氢氧化钠为pH调节剂,CTAB为表面活性剂,在150℃下水热反应24h成功制备出氧化铜纳米棒。通过TEM,XRD对其进行了表征。结果表明:所制得的材料为具有单斜晶系的氧化铜纳米棒,其长度为300~500nm,直径为40~50nm。通过静态配气法,对其在不同工作温度下的气敏性能进行了研究。发现:采用p型氧化铜纳米棒所制得的元件在250℃下,对体积分数为50×10–6的氯气有较好的气敏性能,灵敏度为4.5,响应/恢复时间为8s/40s。

    2009年05期 v.28;No.207 27-29页 [查看摘要][在线阅读][下载 933K]
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  • Li~+对ZnO压敏陶瓷电性能和能带结构的影响

    王发顶;康雪雅;

    采用氧化物固相合成法,制备了掺Li2CO3的ZnO压敏陶瓷。研究了掺Li2CO3量对ZnO压敏陶瓷电性能和能带结构的影响。结果表明:当x(Li2CO3)从0增加到0.50%时,压敏电位梯度从529V/mm增大到2170V/mm。XRD测试发现,掺Li2CO3并未出现新相结构。晶界势垒高度揭示,ZnO晶粒尺寸的迅速减小是压敏电位梯度急剧增高的主要原因。Li+置换Zn2+,将会在禁带中价带的顶部形成附加的受主能级,使能带发生畸变。

    2009年05期 v.28;No.207 30-32页 [查看摘要][在线阅读][下载 930K]
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  • SMT无铅电子焊膏活性剂的研究

    陈海燕;张海燕;黄一帆;郑楚钳;

    选择腐蚀性较低的有机酸作为制备无铅电子焊膏活性剂的原料。对五种有机酸进行筛选和复合选取,并进行回流焊接模拟。按国家标准(GB/T9491—2002)对其铺展率、腐蚀性进行了测试。结果表明,选用w(己二酸)为60%和w(丁二酸)为40%的混合酸作为活性剂,具有良好的润湿性和助焊活性,铺展率在87%左右。焊后残留少,腐蚀性弱,焊点饱满光亮,焊层薄而明晰。

    2009年05期 v.28;No.207 33-35页 [查看摘要][在线阅读][下载 1463K]
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  • c轴择优取向AlN薄膜的制备研究

    宁金叶;刘兴钊;邓新武;

    采用MOCVD法在蓝宝石(0001)单晶衬底上生长AlN压电薄膜。用XRD和原子力显微(AFM)技术表征薄膜的微观结构。研究了衬底温度、TMA和NH3流量、反应室气压对AlN薄膜织构特性的影响,并对薄膜生长的工艺参数进行了相应优化。结果表明:在优化条件下制备的AlN薄膜高度c轴择优取向,(0002)峰摇摆曲线半高宽仅为0.10°,且薄膜表面平整,椭圆偏振法测出其折射率为2.0~2.4。

    2009年05期 v.28;No.207 36-38页 [查看摘要][在线阅读][下载 829K]
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  • SnAgCu系钎料的合金组织和力学性能

    申灏;邰枫;郭福;史耀武;

    研究了Cu含量对SnAgCu系钎料合金显微组织及其与化学镀Ni基板钎焊接头力学性能的影响。结果表明:高Cu含量SnAgCu合金会产生较多的(CuxNi1-x)6Sn5金属间化合物,从而减少镀Ni层的消耗,进一步提高钎焊接头的剪切强度。与Sn-3.0Ag-0.3Cu相比,Sn-3.0Ag-1.0Cu钎焊接头剪切强度提高了6.78%。经过150℃时效1000h后,界面Ni3(P,Sn)层的增长率从Sn-3.0Ag-0.3Cu合金的约66%降低到Sn-3.0Ag-1.0Cu合金的约40%。

    2009年05期 v.28;No.207 39-42页 [查看摘要][在线阅读][下载 2296K]
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  • 基于正交试验的板级电路模块热分析

    刘绪磊;周德俭;黄春跃;李永利;

    利用ANSYS的APDL参数化编程语言,建立了灌封电路模块的有限元模型。选取挠性印制电路板(FPCB)厚度、上、下灌封体厚度、空气对流系数和环境温度等7个参数作为关键因素,安排正交试验。结果表明:上、下灌封体厚度等因素都对灌封电路模块工作温度有显著影响,其中空气对流系数的影响最为显著。初始设计的灌封电路模块工作温度为460.94K,通过增加灌封体的厚度,选择高热导率的灌封材料,保证良好的通风散热,控制环境温度,可以将模块的工作温度降到329.11K。

    2009年05期 v.28;No.207 43-46页 [查看摘要][在线阅读][下载 780K]
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  • CaO-B_2O_3-SiO_2系玻璃形成区及性能研究

    许贵军;周洪庆;朱海奎;陈栋;刘敏;

    采用XRD、SEM等手段,系统研究了CaO-B2O3-SiO2(CBS)系的玻璃形成范围,利用热分析结果计算了玻璃的析晶参数β。结果表明:纯CBS玻璃形成范围是x(B2O3)为10%~75%,x(SiO2)为0~45%,x(CaO)为25%~55%;整个玻璃形成区比较窄,并向B2O3方向伸展。添加x(Al2O3)为10%可以改善玻璃的失透,提高玻璃体的形成能力,使烧结后εr变化不大,由6.43变为6.31,tanδ显著增加,由0.0009增至0.0020。试样的主要晶相为CaB2O4、α-石英和CaSiO3。

    2009年05期 v.28;No.207 47-49页 [查看摘要][在线阅读][下载 969K]
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  • Li_2O-B_2O_3-SiO_2掺杂低温烧结CLST陶瓷的介电性能

    李飞龙;黄金亮;杨留栓;顾永军;李谦;

    通过Li2O-B2O3-SiO(2LBS)玻璃的有效掺杂,低温液相烧结制备了16CaO-9Li2O-12Sm2O3-63TiO(2CLST)陶瓷。研究了LBS掺杂量对其烧结性能、相组成及介电性能的影响。结果表明:通过掺杂LBS,使CLST陶瓷的烧结温度由1300℃降至1000℃,且无第二相生成。随LBS掺杂量的增加,tanδ显著降低,τf趋近于零。当w(LBS)为10%时,CLST陶瓷在1000℃烧结3h获得最佳介电性能:tanδ为0.0045,τf为4×10–6/℃,虽然εr由105.0降至71.0,但仍属于高εr范围。

    2009年05期 v.28;No.207 50-53页 [查看摘要][在线阅读][下载 1479K]
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  • 烧结温度对富钛CaCu_3Ti_4O_(12)陶瓷电学性能的影响

    陈栋;刘敏;周洪庆;朱海奎;

    采用固相反应法在不同烧结温度(1080~1160℃)下制备了CaCu3Ti4+xO12(x=0,0.01,0.03和0.05)陶瓷,研究了烧结温度对富钛陶瓷相结构和电学性能的影响。结果表明:1080~1140℃烧结的样品均为单一的CaCu3Ti4O12相。1120℃和1140℃烧结样品的相对密度相近,约95%,在50Hz~10MHz,介电频谱中均出现tanδ峰,且从1120℃的105Hz变化到1140℃的103Hz处。运用内部阻挡层电容模型和Maxwell-Wagner模型可以解释该现象。

    2009年05期 v.28;No.207 54-57页 [查看摘要][在线阅读][下载 975K]
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  • 特高压电容器用电极箔腐蚀工艺的研究

    迟慧;洪涛;邹道兵;

    通过对特高压(Vfe=950V)电容器用电极箔微观形貌的理论计算,采用一次腐蚀控制孔密度和孔长度参数,二次腐蚀控制相应的孔径。研究了700~1100V特高压电极箔的两次电化学腐蚀工艺。使Vfe为950V的特高压电容器用电极箔的参数指标得到了优化:孔密度为0.116个/μm2,孔径为2.02μm,比容达到0.210×10–6F/cm2。

    2009年05期 v.28;No.207 58-61页 [查看摘要][在线阅读][下载 1064K]
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  • 硫脲作还原剂制备二氧化锰及其电化学性能

    韩恩山;陈佳宁;宋芸聘;王晨旭;

    通过化学液相法,用硫脲作为还原剂和高锰酸钾反应制备了无定形MnO2。用XRD和SEM研究了产物的结构和形貌,用恒流充放电和循环伏安测试考察了MnO2的电化学性能。结果表明:在0.5mol/L的Na2SO4溶液中,电位窗口为0~0.8V、电流密度为1×10–3A/cm2时,首次放电比容量为248F/g,,经过100次循环后比容量保持在232F/g。在(3~5)×10–3A/cm2的电流密度下放电比容量分别为198和182F/g,具有良好的电容特性。

    2009年05期 v.28;No.207 62-64页 [查看摘要][在线阅读][下载 1486K]
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  • 硫化温度对Sn_xS_y薄膜光电性能的影响

    赖松林;程树英;彭少朋;

    用真空热蒸发技术在玻璃基片上沉积一层Sn薄膜,分别在硫化温度为210,240和270℃的条件下硫化45min。研究了硫化温度对薄膜样品光学和电学性能的影响。结果显示:随着硫化温度的升高,其电阻率减小;但薄膜导电类型不受硫化温度的影响,都为p型。当硫化温度为240℃时,薄膜为斜方SnS多晶薄膜,沿{111}方向优先生长,其均匀性和致密性以及对基片的附着力都较好,薄膜粒径为200~800nm,薄膜的直接能带间隙为1.46eV,电阻率为25.54Ω·cm。

    2009年05期 v.28;No.207 65-68页 [查看摘要][在线阅读][下载 1143K]
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综合信息

  • 业内知名专家于凌宇解读电子信息产业发展新规律

    <正>于凌宇认为,电子信息产业发展的规律之一是"逐级递增规律"。电子元件技术的每一次创新突破,不仅使电子元件产业本身产生一次跨越式发展,而且推动直接利用新型电子元件的电子整机更新换代,使这些直接相关的电子整机产业实现更大的发展,进而带动国家经济与世界经济走向繁荣。

    2009年05期 v.28;No.207 23页 [查看摘要][在线阅读][下载 458K]
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  • 多晶硅产能扩张势头正旺

    <正>2008年12月,全球最大的多晶硅生产厂家——美国Hemlock公司宣布了将在田纳西州投资12亿美元建设多晶硅工厂的计划。根据该计划,Hemlock在田纳西州的新厂初期产能为1.3万吨/年,未来可将产能提高到2.1万吨/年,而总投资也将增至25亿美元。与此同时,该公司还将在美国密歇根州的工厂追加投资10亿美元,从而将该厂的产能从每年

    2009年05期 v.28;No.207 32页 [查看摘要][在线阅读][下载 546K]
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  • 台湾面板厂计划下半年增加42%产出

    <正>调研机构Display Search于近日首次发布关于大尺寸液晶面板厂商生产策略报告,该报告指出韩国厂商2009年的计划出货量将较2008年增加23%,而我国台湾厂商将仅较去年增加12%。根据Display Search分析,2008年韩国大尺寸液晶面板年出货量增加了23%,今年也将跟随去年增长的脚步,加上有部分新生产线

    2009年05期 v.28;No.207 53页 [查看摘要][在线阅读][下载 601K]
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  • 2009年3月对外贸易出现明显好转迹象

    <正>据海关统计,今年3月份,我国进出口总值1620.2亿美元,同比下降20.9%。其中,出口902.9亿美元,同比下降17.1%;进口717.3亿美元,同比下降25.1%;当月贸易顺差185.6亿美元,同比增加41.2%。

    2009年05期 v.28;No.207 57页 [查看摘要][在线阅读][下载 595K]
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  • SMT企业要走长远发展之路

    <正>表面贴装行业正在经受全球消费开支下降所产生的严重负面影响。中国电子制造行业如何面对全球经济下滑带来的冲击,同时调整扩张计划、生产能力和成本,非常关键。客户向制造商提出更多要求和更高标准。

    2009年05期 v.28;No.207 68页 [查看摘要][在线阅读][下载 582K]
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  • 中国汽车市场IT投资占比不足4%

    <正>汽车行业IT成熟度在全球来看仅次于金融、电信,属于发展比较完善的行业,IDC预计2011年全球汽车行业总体IT投资规模可达到342.2亿美元,2006~2011年汽车行业IT投资规模平均年复合增长率为4.9%。

    2009年05期 v.28;No.207 72页 [查看摘要][在线阅读][下载 495K]
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  • 京东方TFT-LCD第6代线开工娄勤俭出席并讲话

    梁红兵;

    <正>2009年,4月13日,中国大陆首条第6代TFT-LCD生产线开工仪式在合肥市举行,生产线完全由京东方自主建设。京东方第6代TFT-LCD生产线项目计划总投资175亿元,设计产能为月产90K,玻璃基板尺寸为1500mm×1850mm,包括阵列、彩膜、成盒和模组等四部分全生产工序,产品以37英寸以下电视和

    2009年05期 v.28;No.207 76页 [查看摘要][在线阅读][下载 557K]
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  • 欧盟RoHS指令细化有害物质要求

    <正>2008年12月3日,欧盟委员会在其官方网站上刊登了RoHS指令修订版的草案。企业关注的RoHS指令修订内容主要包括:将医疗器械和控制设备纳入管控范围,进一步限制的优先关注物质和加强市场监督等。虽然修订涉及诸多内容,

    2009年05期 v.28;No.207 80页 [查看摘要][在线阅读][下载 584K]
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可靠性

  • 基于蒙特卡罗法的QFN器件可靠性灵敏度分析

    李永利;周德俭;黄红艳;

    采用有限元软件,在热循环加载条件下,对四角扁平无引脚封装(QFN,Quad Flat No-lead Package)器件进行了热疲劳可靠性分析。选取PCB焊盘长度等几个因素作为灵敏度分析的输入变量,热疲劳寿命作为输出变量。结果表明:影响QFN器件热疲劳寿命的主要因素依次是焊盘长度、焊盘宽度和焊盘弹性模量等,其灵敏度值分别为:–6.4848×10–1,6.0606×10–1和6.0000×10–1等。提出了提高QFN器件可靠性的方法。

    2009年05期 v.28;No.207 69-72页 [查看摘要][在线阅读][下载 1829K]
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  • 刚挠背板动力学仿真与焊点可靠性研究

    史经辉;吴兆华;黄春跃;

    根据通信设备中刚挠背板互联结构,建立了有限元模型。采用两种约束方案,通过模态分析获得其固有频率和振型;通过随机振动分析,获得其应力应变;根据Coffin-Manson经验公式,结合三带技术建立了互联焊点的振动疲劳寿命预测模型,并计算了其疲劳损伤。结果表明:备用状态下互联结构的一阶固有频率为141Hz,工作状态下为988Hz;随机振动负载条件下刚挠结合部位及焊点与刚性背板连接区为应力集中区;对备用状态下互联结构施加z方向激励,焊点的疲劳损伤最大。

    2009年05期 v.28;No.207 73-76页 [查看摘要][在线阅读][下载 940K]
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综述

  • 电容器用铝箔隧道孔生长机理研究进展

    付成兵;肖仁贵;闫康平;

    综述了近年来国内外对铝箔电化学侵蚀机理的研究成果,指出了必须对铝箔隧道孔生长机制有更透彻的了解,需要控制隧道孔生长模式以便最大限度地拓展铝箔比表面积。结合实际研究结论,介绍了铝箔电化学脉冲侵蚀新模型。

    2009年05期 v.28;No.207 77-80页 [查看摘要][在线阅读][下载 831K]
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